0.7 秒內(nèi)測量絕緣體上的金屬薄膜

可在短時間內(nèi)（0.7秒）高精度測量絕緣材料（銅箔、印刷電路板鍍層等）上的金屬膜。

易于閱讀的屏幕配置

屏幕大、明亮，使用電腦時易于查看。

易于校準和測量

易于校準和測量。可選擇兩個測量范圍（2 至 24 μm、10 至 120 μm）。

各種圖表可以立即查看

統(tǒng)計處理后，可以隨時立即查看直方圖、剖面圖和 xR 控制圖。

異常值檢測功能

如果您設置膜厚度的上限和下限，則會通知您異常值。

方便的統(tǒng)計處理

可保存每個通道的測量數(shù)據(jù)，并可設置統(tǒng)計項目，并可對測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計處理。

最多可注冊 40 個頻道

您最多可以注冊 40 個頻道，因此您可以通過用戶名、部件號等單獨注冊頻道來管理頻道。

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