日本標(biāo)準(zhǔn)型薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-A200/FT-A200R介紹

發(fā)布時(shí)間：2022-03-25　點(diǎn)擊量：991

日本標(biāo)準(zhǔn)型薄膜測(cè)試儀連續(xù)測(cè)厚機(jī)FT-A200/FT-A200R介紹

薄膜測(cè)厚儀，又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀、薄膜厚度儀等，薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

薄膜測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)量方式的不同，可分為：

接觸式薄膜測(cè)厚儀：點(diǎn)接觸式，面接觸式。

非接觸式薄膜測(cè)厚儀：射線，渦流，超聲波，紅外等

注：我們所能見到的包裝材料實(shí)驗(yàn)室厚度測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)，包括國家標(biāo)淮，國際、美國、日本、歐洲標(biāo)準(zhǔn)等均規(guī)定采用機(jī)械式測(cè)厚中的面接觸測(cè)厚的方式，同時(shí)該方法也被作為薄膜，鋁箔，紙張等材料的仲裁方法。

配備高精度測(cè)量頭和放大器單元的機(jī)器。
只需設(shè)置從生產(chǎn)線切出的薄膜，即可輕松連續(xù)測(cè)量厚度。

FT-A200 測(cè)量范圍 / 10 μm 至 200 μm
FT-A200R 測(cè)量范圍 / 3 μm 至 100 μm
測(cè)量分辨率/ 0.01 μm

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